CCD Smear现象
石鑫华机器视觉网：以FT型CCD为例，当电荷从感光区转移到存储区时（这个时间从几十us到数百us），感光区实际还在不停的感光，不停的产生电荷，他会污染已经存在的电荷，这种影响我们称为“smear效应”（漏光、弥散、拖尾现象）。如果要使这种影响最小，就必须让CCD的转移时间尽可能的短或者干脆在转移时用机械快门关断光路。如果转移时间一定，那么积分时间越短，这种影响越严重，为什么呢？积分时间越短，本身积累的电荷就越少，这样即使很少的污染电荷就会造称严重影响，反之，如果积分时间比较长，自身的电荷很多，那么同样数量的污染电荷的影响也就微不足道了。另一方面，当强光照射在CCD传感器上，由于光斜射，工艺结构等原因，光生电荷可能被邻近的存储区所捕获。他导致一个随机的扩散过程，使电荷跑到了存储区（IT型最明显）。波长越长的光会进入传感器越深，这导致了更严重的smear效应。
下面就是实际拍摄的一副图像的smear影响： http://visionbbs.com/data/uploads/allimg/131005/2-131005153603.jpg
漏光现象
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