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[原创] NI Vision Assistant视觉助手图像处理教程 第11章 视觉助手应用实例大全 11.11 晶片划痕检查

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    发表于 2020-3-15 17:19:12 | 显示全部楼层 |阅读模式
    NI Vision Assistant视觉助手图像处理教程 第11章 视觉助手应用实例大全 11.11 晶片划痕检查

    NI Vision Assistant视觉助手教程

    第十一章 视觉助手应用实例大全

    第十一节晶片划痕检查
    [attach]8721[/attach]
    1 晶片划痕检测
    类似于图1这样的磨砂面晶片上的划痕,使用粒子分析等方法,可能会比较难以检测到划痕。这时可以考虑使用纹理分析。纹理分析时,最好是整个纹理充满视野。不希望周围有背景图像。因此在这个示例中,使用了MASK,从晶片中截取了一个矩阵区域,用于纹理分析。实际应用时,需要将晶片定位的比较正,然后相机的分辨率可以设置成晶片大小(AOI功能的相机)。

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